EVO RAY

UV-VIS-NIR 光谱仪模块

将宽谱段采集融入您的仪器。集成 C-T 光学平台、2048 像素 CCD 与 16 位采集电子学,面向光谱测量与 OEM 系统集成。

查看技术参数
规格说明书中的 EVO RAY 外观图,展示壳体与外部接口
规格说明书产品外观图
配置波长范围
190-1000 nm
CCD 线阵探测器
2048 像素
A/D 分辨率
16 bit
光纤接口
SMA / FC/PC

紧凑光学架构,
覆盖宽谱段采集。

Czerny-Turner 反射式光学平台,配合 2048 像素线阵 CCD,面向宽谱段光谱采集。

按需求配置狭缝

结合目标应用确认狭缝配置。

光纤接口,按需配置

可配置 SMA 或 FC/PC 光纤接口,具体交付按配置确认。

光路示意图待核准。旧示意图中的探测器标注与已确认配置不一致,暂不展示。

技术参数

当前配置的光学、探测器与采集性能,按系统层级分别列示。

光学与光谱性能

光学结构
Czerny-Turner(C-T)
配置波长范围
190-1000 nm
入口狭缝
按需求配置
光纤输入
SMA 或 FC/PC(可配置)

探测器

探测器
线阵 CCD
像素数
2048
制冷
非制冷

电子学与采集

A/D 分辨率
16 bit

波长范围按具体配置确认。此处仅列已确认参数,其他性能指标待测试数据或规格原件确认。

从光谱采集,到系统集成。

作为 NANO X1 的核心光谱部件,也可独立用于光谱采集或 OEM 集成。

OEM 集成

从需求确认开始

请提供目标波段、光纤接口和系统集成需求,进一步确认适用配置与交付资料。

光学输入
SMA / FC/PC,按配置确认
采集
16 bit A/D 转换
配套软件
具体配套与接口资料待确认

集成时需要确认什么?

电气与时序

外部触发的电气限值、边沿、延迟和抖动以受控接口规格为准。

协议与固件

OEM 协议版本、数据帧格式及兼容性要求,与量产固件版本同步确认。

连续采集

连续采集性能和系统刷新率需要结合具体配置验证,当前不提供未经确认的数值。

按应用确认配置

从光纤接口与狭缝开始,进一步确认安装、环境和集成资料。

配置与交付资料

光纤接口
SMA / FC/PC
入口狭缝
按需求配置
波长范围
190–1000 nm,按具体配置确认
波长标定
交付资料待确认
机械资料
安装尺寸与接口资料需按项目确认

机械与环境

机械与环境条件
待确认(请联系技术团队确认具体集成条件)

典型应用

光谱采集、NANO X1 核心光谱部件及 OEM 系统集成。

讨论您的目标波段与集成需求。

联系技术团队

申请试用 NANO X1

目前仅开放中国大陆地区试用。

主要检测需求